如何使用檢測設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高溫試驗(yàn)箱等對CPU的檢測，有何等重要的測試意義。
21世紀(jì)是一個網(wǎng)絡(luò)橫行的時代，在這個時代城市的人們，有百分之九十以上的人群，每天都會使用到電腦，人們會使用電腦購物、看電影、學(xué)習(xí)、工作等很多事情，雖然我們每天都在使用著電腦，但是有多少人知道電腦的核心是什么呢？
中央處理器（英文Central Processing Unit，CPU）是一臺計(jì)算機(jī)的運(yùn)算核心和控制核心。CPU、內(nèi)部存儲器和輸入/輸出設(shè)備是電子計(jì)算機(jī)三大核心部件。其功能主要是解釋計(jì)算機(jī)指令以及處理計(jì)算機(jī)軟件中的數(shù)據(jù)。CPU由運(yùn)算器、控制器和寄存器及實(shí)現(xiàn)它們之間的數(shù)據(jù)、控制及狀態(tài)的總線構(gòu)成。差不多所有的CPU的運(yùn)作原理可分為四個階段：提?。?/font>Fetch）、解碼（Decode）、執(zhí)行（Execute）和寫回（Writeback）。 CPU從存儲器或高速緩沖存儲器中取出指令，放入指令寄存器，并對指令譯碼，并執(zhí)行指令。所謂的計(jì)算機(jī)的可編程性主要是指對CPU的編程。
CPU計(jì)算機(jī)的發(fā)展主要表現(xiàn)在其核心部件——微處理器的發(fā)展上，每當(dāng)一款新型的微處理器出現(xiàn)時，就會帶動計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的其他部件的相應(yīng)發(fā)展，如計(jì)算機(jī)體系結(jié)構(gòu)的進(jìn)一步優(yōu)化，存儲器存取容量的不斷增大、存取速度的不斷提高，外圍設(shè)備的不斷改進(jìn)以及新設(shè)備的不斷出現(xiàn)等。
CPU在工作的過程中——提取、解碼、執(zhí)行、寫回，在這一過程中，由于高速的計(jì)算工作，CPU會產(chǎn)生大量的熱，我們在對CPU原材料的選取過程中就要去選擇更加適合耐高溫、散熱性能更強(qiáng)的材料，在選擇材料的過程中，就會使用到高溫老化試驗(yàn)箱，高溫老化試驗(yàn)箱是通過模擬高溫，對產(chǎn)品進(jìn)行測試，觀察產(chǎn)品的某一設(shè)定的溫度能夠使用多久，在這樣的環(huán)境中CPU能否正常工作，到了哪一個溫度會造成一個高溫?zé)宓臏囟扰R界點(diǎn)，這樣就可以通過這樣的測試對產(chǎn)品進(jìn)行改進(jìn)，可以選擇更加適合散熱、耐高溫的材料，從而降低產(chǎn)品的成本，提高產(chǎn)品的質(zhì)量，提高用戶的體驗(yàn)度、使用度。
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